FJ-1200 Environmental Radiation Meter with 0.01 ~ 200 µSv/h Measuring Range NaI(Tl) Crystal Detector and Over-Threshold Alarm

Zakres pomiarowy: 1-240,0 mm

Maksymalna odległość odlotu: 3,5 mm

Maksymalny zakres pomiarowy powłoki: 6mm

Zakres pomiaru drgań: 0-156 m/s2

Typy promieniowania: Promienie X, γ, α, β

Wbudowany detektor w hoście: podwójne liczniki GM

Wyświetlacz: Sv/h, mSv/h, Sv/h (przyrząd automatycznie przełącza jednostki)

Zakres energii: 20 keV do 3 MeV

Nazwa produktu: α β Monitor zanieczyszczenia powierzchni

Typy promieniowania: Promienie α, β, γ i rentgenowskie

Jednostki miary: μGy/h, μSv/h, CPS, CPM, Bq/cm2

Zakres energii: 25KeV – 3MeV

Typy promieniowania: Promieniowanie α, β, γ i rentgenowskie

Detektor: Płaski detektor z podwójnym miganiem (opcjonalnie lampa GM)

Jednostki miary: μGy/h, μSv/h, CPS, CPM, Bq/cm2

Zakres energii: 25KeV - 3MeV

średnica lin: 1 do 300 mm (0,04" do 11,8")

System komputerowy: Windows98／2000／xp／Vista/windows7

Norma Certyfikatu: ASTM1571

Podwójna funkcja: Możliwość LMA i LF