logo
Poprosić o wycenę |
Dom ProduktyNieniszczący sprzęt testujący

Lightweight Wireless Detector Based on Amorphous Silicon(a-Si) Suitable for DR Tablet and NDT

Wszystkie produkty

Nieniszczący sprzęt testujący

(2199)

Defektoskop ultradźwiękowy

(129)

Wykrywacz defektów rentgenowskich

(158)

Przeszukiwacz rurociągów rentgenowskich

(20)

Urządzenia do badania cząstek magnetycznych

(219)

Sprzęt do testowania prądów wirowych

(34)

Radiography Film Viewer

(19)

Ultradźwiękowe bloki kalibracyjne

(50)

Sonda ultradźwiękowa

(22)

Urządzenia monitorujące promieniowanie

(24)

Ołowiane ekrany wzmacniające

(7)

Penetrameter typu drutu

(6)

Wskaźnik grubości powłoki

(109)

Maszyna do badania twardości

(169)

Przenośny tester chropowatości powierzchni

(45)

Sprzęt metalograficzny

(31)

Przenośny miernik drgań

(67)
Najlepsze produkty
Cyfrowy kalibrator wibracji

Cyfrowy kalibrator wibracji

Orzecznictwo
Chiny HUATEC GROUP CORPORATION Certyfikaty
Chiny HUATEC GROUP CORPORATION Certyfikaty
Opinie klientów
szeroka gama produktów NDT, możemy uzyskać wszystko w grupie huatec. Wolimy kupować od nich. Rudolf Shteinman Rosja

—— Rudolf Shteinman

Podoba mi się serwis, bardzo szybka reakcja, profesjonalna praca. Aret Turcja

—— Aret Kaya

Tester twardości huatec, bardzo dobrej jakości, jesteśmy bardzo zadowoleni z przenośnego testera twardości RHL-50. Kumaren Govender Sotuth Africa

—— Kumaren Govender

Im Online Czat teraz

Lightweight Wireless Detector Based on Amorphous Silicon(a-Si) Suitable for DR Tablet and NDT

Lightweight Wireless Detector Based on Amorphous Silicon(a-Si) Suitable for DR Tablet and NDT
Lightweight Wireless Detector Based on Amorphous Silicon(a-Si) Suitable for DR Tablet and NDT Lightweight Wireless Detector Based on Amorphous Silicon(a-Si) Suitable for DR Tablet and NDT Lightweight Wireless Detector Based on Amorphous Silicon(a-Si) Suitable for DR Tablet and NDT Lightweight Wireless Detector Based on Amorphous Silicon(a-Si) Suitable for DR Tablet and NDT

Duży Obraz :  Lightweight Wireless Detector Based on Amorphous Silicon(a-Si) Suitable for DR Tablet and NDT

Szczegóły Produktu:
Miejsce pochodzenia: Chiny
Nazwa handlowa: HUATEC
Orzecznictwo: ISO,CE
Numer modelu: Seria H4343
Zapłata:
Minimalne zamówienie: 1 szt
Szczegóły pakowania: w kartonie
Czas dostawy: 10 ~ 15 dni roboczych po dokonaniu płatności
Zasady płatności: L/C, T/T, PayPal
Możliwość Supply: 50 sztuk miesięcznie
Kontakt

Lightweight Wireless Detector Based on Amorphous Silicon(a-Si) Suitable for DR Tablet and NDT

Opis
Nazwa produktu: Tablet DR Model: Seria H4343
Marka: HUATEC Wymiar: 644X634X212mm
Podkreślić:

lightweight wireless amorphous silicon detector

,

DR tablet compatible NDT detector

,

amorphous silicon wireless testing equipment

Lightweight Wireless Detector Based on Amorphous Silicon(a-Si) Suitable for DR Tablet and NDT Electricals and interface A/D Conversion 16 bits Data Interface Gigabit Ethernet/802.11ac(only 5G) Acquire Time wired: 1.5s; wireless: 3-5s Exposure Control Software/Sync/AEDMemory 4 GB DDR4, 8 GB SD card Mechanical Dimension 460×460×15 mmWeight 3.8kg (without battery) Material Aluminum andmagnesium alloys Front Panel Carbon fiber Enviromental Temperature 10-35°C (operating) ； -10~50

Etykietka:

maszyna do badań nieniszczących,

Sprzęt do badań ndt,

Narzędzia inspekcji ndt

Szczegóły kontaktu
HUATEC GROUP CORPORATION

Osoba kontaktowa: Ms. Shifen Yuan

Tel: 8610 82921131,8618610328618

Faks: 86-10-82916893

Wyślij zapytanie bezpośrednio do nas (0 / 3000)

O

Wykrywacz defektów rentgenowskich

XXQ-2005 Przenośny defektoskopowy defektoskopu do kontroli spoin z zakleszczaniem

Przemysłowy X-Ray Film Viewer Komputerowy system radiografii w czasie rzeczywistym

Mini szklana rura generatora promieniowania X do akcesoriów wykrywających wadę NDT

Ultradźwiękowe bloki kalibracyjne

Defektoskop ultradźwiękowy / bloki kalibracyjne UT IIW V1 (A2) Typ DIN 54-120 BS2704

IIW V-2 A4 75 mm x 43 mm x 12,5 mm Ultradźwiękowy blok kalibracyjny / ultradźwiękowe bloki testowe

10 - Blok kalibracji Step Wedge do kalibracji grubości i liniowości

Zostaw wiadomość

Polityka prywatności | Chiny dobry Jakość Nieniszczący sprzęt testujący dostawca. © 2016 - 2026 HUATEC GROUP CORPORATION. All Rights Reserved.