Dom Produkty Nieniszczący sprzęt testujący

High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application

Name: High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application
Brand: HUATEC GROUP CORPORATION
Price: 26,775.00 USD
Availability: InStock

Wszystkie produkty

Nieniszczący sprzęt testujący
(1423)

Defektoskop ultradźwiękowy
(124)

Wykrywacz defektów rentgenowskich
(154)

Przeszukiwacz rurociągów rentgenowskich
(20)

Urządzenia do badania cząstek magnetycznych
(192)

Sprzęt do testowania prądów wirowych
(33)

Radiography Film Viewer
(19)

Ultradźwiękowe bloki kalibracyjne
(50)

Sonda ultradźwiękowa
(22)

Urządzenia monitorujące promieniowanie
(24)

Ołowiane ekrany wzmacniające
(7)

Penetrameter typu drutu
(6)

Wskaźnik grubości powłoki
(109)

Maszyna do badania twardości
(165)

Przenośny tester chropowatości powierzchni
(45)

Sprzęt metalograficzny
(31)

Przenośny miernik drgań
(66)

Najlepsze produkty

Cyfrowy kalibrator wibracji

Orzecznictwo

Chiny HUATEC GROUP CORPORATION Certyfikaty

Opinie klientów

szeroka gama produktów NDT, możemy uzyskać wszystko w grupie huatec. Wolimy kupować od nich. Rudolf Shteinman Rosja

—— Rudolf Shteinman

Podoba mi się serwis, bardzo szybka reakcja, profesjonalna praca. Aret Turcja

—— Aret Kaya

Tester twardości huatec, bardzo dobrej jakości, jesteśmy bardzo zadowoleni z przenośnego testera twardości RHL-50. Kumaren Govender Sotuth Africa

—— Kumaren Govender

Im Online Czat teraz

High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application

Duży Obraz : High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application

Szczegóły Produktu:

Miejsce pochodzenia:	Chiny
Nazwa handlowa:	HUATEC
Orzecznictwo:	CE

Zapłata:

Minimalne zamówienie:	1 zestaw
Szczegóły pakowania:	Zewnętrzne opakowanie kartonowe
Czas dostawy:	5-7 dni roboczych po otrzymaniu płatności
Zasady płatności:	T/T, Western Union, PayPal
Możliwość Supply:	10 zestawów/miesiąc

Kontakt

High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application

Opis

Metoda złożona:	Kompozyt typu 1-3	Podstawowy model materiału:	PZ44
Domyślna tolerancja:	±0,05 mm	częstotliwość złożona monokrystaliczna:	5-10 MHz
częstotliwość kompozytu ceramicznego:	0,5–15 MHz
Podkreślić:	ceramic single crystal wafer , NDT sensor composite wafer , high precision testing wafer

High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application

Performance Features

High sensitivity
High bandwidth
Low acoustic impedance
Good matching with water / human tissue / tested medium
Low ringing time
High signal-to-noise ratio

1	Type 1-3 ceramic composite wafers	Example: Frequency MHz/ Length × width mm
Overall dimensions
Wafer length L(mm)			Default tolerance±0.05mm	Note: The single crystal composite frequency is 5-10 MHZ, and the ceramic composite frequency is 0.5-15 MHZ. Other frequencies require technical confirmation
Wafer width W(mm)			Default tolerance±0.05mm
Wafer thickness H(mm)/ wafer frequency(MHz)			Default tolerance for thickness±0.005mm
pitch(mm)	(The size of the small crystal column is added with a knife slit)		It would be best if the customer could provide it. Some Osos have default Settings
Knife slit(mm)
Performance parameters
Composite method	Type 1-3 composite
Base material model	PZ44
Process requirements
Does the electrode need to be edge-wrapped	When edge banding is required, chamfering will be done by default. The drawings provided by the customer are attached
Is an isolation slot needed	When an isolation tank is required, the customer shall provide the drawings (including dimensions and polarity) as attached
Coating requirements	PVD:Gilding
Whether polarization is needed	Default polarization
Whether the positive and negative poles are marked	By default, the red marker dot is the positive pole
Other special requirements	Please describe it in detail if necessary
Test report
ULSO LOGO report	√
Logo-free report
Packaging requirements
Independent packaging	√
Not packaged independently

Application

Ultrasonic flaw detection NDT probe
Medical ultrasound transducer
Underwater acoustic transducer
Phased array probe
High frequency ultrasonic sensor

Etykietka:

Osoba kontaktowa: Ms. Shifen Yuan

Tel: 8610 82921131,8618610328618

Faks: 86-10-82916893

Inne produkty

Gamma-X-ray Tungsten Lead Collimator Precision Tool For Radiation Treatment Planning (Narzędzie precyzyjne do planowania leczenia promieniowania)

Stosowanie: Rentgen gamma

HG-904A4 4-kanałowy przenośny analizator drgań 24bit AD Synchronic Acquisition Bearing Fault Diagnostics

Konwersja AD: 24-bitowe próbkowanie AD

Zakres obrotomierza: 120–12000 obr./min

Pomiar dokładności drgań: ±5%

Pojemność pamięci: 16G

Lampa rentgenowska HXC-16B z ogniskiem 0,8 mm, 160 kV, 500 W do skanerów bezpieczeństwa i defektoskopów

Napięcie lampy (kVp): 160 KV

Charakterystyka żarnika (v): I fmax=4,5A,Uf=5±1

Kąt docelowy: 25°

Maksymalne ciągłe rozpraszanie ciepła (w): 500

HFE-100 Przenośny tester zawartości ferrytu Fe% / FN WRC Podwójny tester spoin do spawania stali austenitycznych i duplex

Zakres: 0,1 ~ 80% Fe, (0,1 ~ 110) liczba WRC

Precyzja: ±2%(raneg0,1~30%Fe), ±3%(raneg30~80%Fe)

Temperatura robocza: 5 ~ 40°C

Baterie: 9v 6F22

Szybkoobrotowa Anoda Medyczna Rura Rentgenowska HXH20 150kV do Obrazowania Diagnostycznego

Napięcie lampy (kVp): 150 kV

prędkość anody (r/min): 2700 (50 Hz) 3200 (60 Hz) 9700 (180 Hz)

Filtracja naturalna (mmAl) （75kV）: ≥1,5

Kąt: 12 °

High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application

High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application

High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application

ceramic single crystal wafer

NDT sensor composite wafer

high precision testing wafer

Performance Features

Application

maszyna do badań nieniszczących,

Sprzęt do badań ndt,