logo
Poprosić o wycenę |
Dom ProduktyNieniszczący sprzęt testujący

HXRF-450S Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii, analizator grubości powłoki

Wszystkie produkty

Nieniszczący sprzęt testujący

(1584)

Defektoskop ultradźwiękowy

(124)

Wykrywacz defektów rentgenowskich

(157)

Przeszukiwacz rurociągów rentgenowskich

(20)

Urządzenia do badania cząstek magnetycznych

(199)

Sprzęt do testowania prądów wirowych

(34)

Radiography Film Viewer

(19)

Ultradźwiękowe bloki kalibracyjne

(50)

Sonda ultradźwiękowa

(22)

Urządzenia monitorujące promieniowanie

(24)

Ołowiane ekrany wzmacniające

(7)

Penetrameter typu drutu

(6)

Wskaźnik grubości powłoki

(109)

Maszyna do badania twardości

(165)

Przenośny tester chropowatości powierzchni

(45)

Sprzęt metalograficzny

(31)

Przenośny miernik drgań

(67)
Najlepsze produkty
Cyfrowy kalibrator wibracji

Cyfrowy kalibrator wibracji

Orzecznictwo
Chiny HUATEC GROUP CORPORATION Certyfikaty
Chiny HUATEC GROUP CORPORATION Certyfikaty
Opinie klientów
szeroka gama produktów NDT, możemy uzyskać wszystko w grupie huatec. Wolimy kupować od nich. Rudolf Shteinman Rosja

—— Rudolf Shteinman

Podoba mi się serwis, bardzo szybka reakcja, profesjonalna praca. Aret Turcja

—— Aret Kaya

Tester twardości huatec, bardzo dobrej jakości, jesteśmy bardzo zadowoleni z przenośnego testera twardości RHL-50. Kumaren Govender Sotuth Africa

—— Kumaren Govender

Im Online Czat teraz

HXRF-450S Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii, analizator grubości powłoki

HXRF-450S Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii, analizator grubości powłoki
HXRF-450S Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii, analizator grubości powłoki HXRF-450S Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii, analizator grubości powłoki

Duży Obraz :  HXRF-450S Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii, analizator grubości powłoki

Szczegóły Produktu:
Miejsce pochodzenia: Chiny
Nazwa handlowa: HUATEC
Orzecznictwo: CE
Numer modelu: HXRF-450S
Zapłata:
Minimalne zamówienie: 1 szt
Cena: USD14145/set - USD15990/set
Szczegóły pakowania: Kartonowe pudełko do pakowania
Czas dostawy: 10-15 dni roboczych po otrzymaniu płatności
Zasady płatności: T/T, PayPal
Możliwość Supply: 5 zestawów/miesiąc
Kontakt

HXRF-450S Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii, analizator grubości powłoki

Opis
Zakres elementów pomiarowych ：: Aluminium (AL) - uran (U) Detektor: SDD
Czas testu: 10-40 Prąd lampy: 0-1MA (kontrolowany programem)
Wysokie ciśnienie: 0-50KV (kontrolowany programem) Powiększenie: Optyka: 40-60 ×
Napięcie wejściowe:: AC220V±10% 50/60Hz
Podkreślić:

Analytyk powłoki spektrometru fluorescencji promieniowania rentgenowskiego

,

Pomiar grubości powłoki EDXRF

,

niezniszczający analizator spektrometru XRF

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii HXRF-450S Analizator grubości powłok
Specyfikacje produktu
Atrybut Wartość
Zakres pierwiastków pomiarowych Glin (Al) - Uran (U)
Detektor SDD
Czas testu 10-40s
Prąd lampy 0-1mA (sterowany programowo)
Wysokie napięcie 0-50kV (sterowany programowo)
Powiększenie Optyka: 40-60x
Napięcie wejściowe AC220V±10% 50/60HZ
Przegląd produktu

Tester grubości powłok malarskich HXRF-450S XRF X-ray Fluorescence to wysokowydajny instrument przeznaczony do precyzyjnego pomiaru grubości powłok i analizy materiałów w różnych gałęziach przemysłu.

Warunki pracy
  • Temperatura pracy: 15-30°C
  • Wilgotność względna: 40%~50%
  • Zasilanie: AC: 220V ± 5V
Wydajność techniczna
  • Doskonała długoterminowa stabilność z minimalnymi wymaganiami kalibracji
  • Brak konieczności przygotowania próbki dla systemów powłokowych, próbek stałych lub ciekłych
  • Kompleksowa wydajność obejmująca analizę powłok, analizę jakościową/ilościową, analizę kąpieli i funkcje statystyczne
Zastosowania

Idealny do komponentów elektronicznych, półprzewodników, PCB, FPC, wsporników LED, części samochodowych, powłok funkcjonalnych, części dekoracyjnych, złączy, terminali, artykułów sanitarnych, biżuterii i innych branż do pomiaru grubości powłok powierzchniowych i analizy materiałów.

Funkcje bezpieczeństwa
  • Prosty interfejs użytkownika z ograniczonymi uprawnieniami operatora
  • Możliwości konserwacji przez nadzorcę
  • Automatyczne rejestrowanie użytkowania przez operatora
  • Automatyczne blokowanie zapobiegające nieautoryzowanemu działaniu
  • Czujnik drzwi komory próbki
  • Lampka ostrzegawcza promieniowania rentgenowskiego
  • Przyciski bezpieczeństwa na panelu przednim
Kluczowe cechy
  • Mierzy do 5 warstw (4 powłoki + podłoże) jednocześnie
  • Analizuje 15 pierwiastków z automatyczną korekcją linii widmowej
  • Wysoka dokładność pomiaru (do μin) z doskonałą stabilnością
  • Szybki pomiar nieniszczący (nawet 10s)
  • Analizuje ciała stałe i roztwory z możliwościami jakościowymi, półilościowymi i ilościowymi
  • Identyfikacja materiału i wykrywanie klasyfikacji
  • Kompleksowe statystyki danych (średnia, odchylenie standardowe itp.)
  • Wiele opcji wyjściowych (druk, PDF, Excel) z kompleksowym raportowaniem
  • Podgląd pozycji pomiarowej z powiększeniem optycznym 30x
  • Globalne wsparcie serwisowe i techniczne
Parametry techniczne
Parametr Specyfikacja
Zakres pierwiastków pomiarowych Glin (Al) - Uran (U)
Detektor SDD
Typy kolimatorów Stały pojedynczy otwór (0,15mm, 0,2mm, 0,5mm)
System ścieżki optycznej Napromieniowanie pionowe
Powiększenie Optyka: 40-60x
Tryby wyświetlania Widmo pierwiastkowe, wzór etykiety, pierwiastki i wartości pomiarowe
Kamera Kamera przemysłowa o wysokiej rozdzielczości z powiększeniem lokalnym
Zastosowania Pojedyncza/podwójna powłoka, powłoka stopowa, roztwór galwaniczny
Napięcie wejściowe AC220V±10% 50/60HZ
Komunikacja Szybka transmisja USB
Wymiary 555*573*573mm (jama 410*478*245mm)
Źródło promieniowania rentgenowskiego Precyzyjna lampa mikroogniskująca (cel W)
Funkcje oprogramowania Algorytm FP, automatyczna diagnostyka/korekta błędów, automatyczna kompensacja
Konfiguracja standardowa
Detektor półprzewodnikowy SDD
  • Detektor półprzewodnikowy SDD chłodzony elektrycznie
  • Rozdzielczość: 129 ± 5 EV
  • Moduł obwodu wzmacniającego do detekcji charakterystycznych promieni rentgenowskich próbki
Urządzenie wzbudzające promieniowanie rentgenowskie
  • Maksymalny prąd żarnika: 1mA
  • Komponent półstratny, 50W, chłodzony powietrzem
Nadajnik wysokiego napięcia
  • Maksymalne napięcie wyjściowe: 50kV
  • Minimalna regulacja sterowana 5kV
  • Wbudowane zabezpieczenie przed przeciążeniem napięcia
HXRF-450S Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii, analizator grubości powłoki 0 HXRF-450S Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii, analizator grubości powłoki 1

Etykietka:

maszyna do badań nieniszczących,

Sprzęt do badań ndt,

Narzędzia inspekcji ndt

Szczegóły kontaktu
HUATEC GROUP CORPORATION

Osoba kontaktowa: Ms. Shifen Yuan

Tel: 8610 82921131,8618610328618

Faks: 86-10-82916893

Wyślij zapytanie bezpośrednio do nas (0 / 3000)

O

Wykrywacz defektów rentgenowskich

XXQ-2005 Przenośny defektoskopowy defektoskopu do kontroli spoin z zakleszczaniem

Przemysłowy X-Ray Film Viewer Komputerowy system radiografii w czasie rzeczywistym

Mini szklana rura generatora promieniowania X do akcesoriów wykrywających wadę NDT

Ultradźwiękowe bloki kalibracyjne

Defektoskop ultradźwiękowy / bloki kalibracyjne UT IIW V1 (A2) Typ DIN 54-120 BS2704

IIW V-2 A4 75 mm x 43 mm x 12,5 mm Ultradźwiękowy blok kalibracyjny / ultradźwiękowe bloki testowe

10 - Blok kalibracji Step Wedge do kalibracji grubości i liniowości

Zostaw wiadomość

Polityka prywatności | Chiny dobry jakość Nieniszczący sprzęt testujący dostawca. © 2016 - 2026 HUATEC GROUP CORPORATION. All Rights Reserved.