|
Szczegóły Produktu:
|
| Zakres: | 0 ~ 1250 μm/0 ~ 50mil | Min. Promień przedmiotu obrabianego: | F: Wypukły 1,5 mm / Wklęsły 25 mm N: Wypukły 3 mm / Wklęsły 50 mm |
|---|---|---|---|
| Min. Powierzchnia pomiarowa: | 6mm | Min. Grubość próbki: | 0,3 mm |
| Rezolucja: | 0,1 μm (0~99,9 μm); 1 μm (ponad 100 μm) | Dokładność: | ± 1 ~ 3%n lub 2,5 μm lub 0,1 mil (która z tych wartości jest większa) |
| Podkreślić: | Laboratoryjny miernik grubości powłoki,high Accuracy Coating Thickness Gauge,Miernik grubości powłoki o rozdzielczości 1 μm |
||
TG-8010 laboratoryjny miernik grubości powłok
1. CECHY
* Spełnia normy ISO2178 i ISO 2361, a także DIN, ASTM i BS. Może być używany zarówno w laboratorium, jak i w trudnych warunkach terenowych.
* Sondy F mierzą grubość materiałów niemetalicznych (np. farby, tworzywa sztucznego, emalii porcelanowej, miedzi, cynku, aluminium, chromu itp.) na materiałach magnetycznych (np. żelazo, nikiel itp.). Często używane do pomiaru grubości warstwy galwanicznej, warstwy lakieru, warstwy emalii porcelanowej, warstwy fosforanowej, płytek miedzianych, płytek aluminiowych, niektórych płytek ze stopów, papieru itp.
* Sondy N mierzą grubość p o w ł o k n i e m a g n e t y c z n y c h n a m e t a l a c h n i e m a g n e t y c z n y c h. Jest używany do anodowania, lakieru, farby, emalii, powłok z tworzyw sztucznych, proszku itp. nakładanych na aluminium, mosiądz, stal nierdzewną niemagnetyczną itp.
* Automatyczne rozpoznawanie podłoża.
* Ręczne lub automatyczne wyłączanie.
* Dwa tryby pomiaru: Pojedynczy i Ciągły
* Szeroki zakres pomiarowy i wysoka rozdzielczość.
* Konwersja metryczna/imperialna.
* Cyfrowy wyświetlacz z podświetleniem zapewnia dokładny odczyt bez zgadywania i błędów.
* Może komunikować się z komputerem PC w celu statystyki i drukowania za pomocą opcjonalnego kabla.
* Może przechowywać 99 grup pomiarów.
* Dostępna jest statystyka.
DANE TECHNICZNE
| Wyświetlacz | 4 cyfry LCD, podświetlenie |
| Zakres pomiarowy |
0~1250 μm/0~50mil (inne zakresy mogą być określone) |
| Min. promień przedmiotu obrabianego | F: Wypukły 1,5 mm/Wklęsły 25 mm N: Wypukły 3 mm/ Wklęsły 50 mm |
| rozdzielczość | 0,1 μm (0~99,9μm); 1 μm (powyżej 100μm) |
| Min. obszar pomiarowy | 6 mm |
| Min. grubość próbki | 0,3 mm |
| Dokładność | ±1~3%n lub 2,5 μm lub 0,1 mil (w zależności od tego, która wartość jest większa) |
| Wskaźnik baterii | Wskaźnik niskiego poziomu naładowania baterii |
| Interfejs PC | z interfejsem RS-232C |
| Zasilanie | 2x1,5 bateria AAA (UM-4) |
| Warunki pracy | Temp. 0~50℃ . Wilgotność<95% . |
| Rozmiar | 126x65x35 mm; 5,0x2,6x1,6 cala |
| Waga | około 81g (bez baterii) |
Standardowe akcesoria:
Etui ...................1 szt.
Instrukcja obsługi ............ 1 szt.
Sonda F wbudowana .................1 szt.
Sonda NF wbudowana...............1 szt.
Folie kalibracyjne ..............1 zestaw.
Podłoże (Żelazo) ................1 szt.
Podłoże (Aluminium)......1 szt.
Akcesoria opcjonalne:
Kabel RS-232C i oprogramowanie:
1. Adapter USB do RS-232C
2. Interfejs Bluetooth
![]()
![]()
![]()
![]()
Osoba kontaktowa: Ms. Shifen Yuan
Tel: 8610 82921131,8618610328618
Faks: 86-10-82916893