HXRF-QP880 Optyczny spektrometr emisji pełnozakresowy 160-580nm Detektor CMOS Analizator elementów stopu metalu dla hutnictwa odlewniczego
1.Przegląd instrumentu
Optyczny spektrometr emisyjny HXRF-QP880 wykorzystuje międzynarodowy standard technologii projektowania i produkcji. Wykorzystuje najbardziej zaawansowane urządzenie do akwizycji sygnału CMOS japońskiej firmy Hamamatsu Co. Każdy CMOS może osobno ustawić liczbę iskier. Przyjmuje konstrukcję próżniowej komory świetlnej i w pełni cyfrowe źródło światła wzbudzenia. Spektrometr CMOS zawiera nie tylko funkcję pełnego spektrum spektrometru CCD, ale ma także zalety spektrometru PMT, który ma bardzo niski limit wykrywalności pierwiastków niemetalicznych. Konstrukcja całej maszyny jest rozsądna. Ma również wiele zalet, takich jak łatwa obsługa, wysoka dokładność wyników testu, długoterminowa stabilność itp.
1)Główne parametry techniczne
|
Pole aplikacji
|
Metalurgia, odlewnictwo, maszyny, badania naukowe, kontrola towarów, przemysł motoryzacyjny, petrochemiczny, stoczniowy, energia elektryczna, lotnictwo, energia jądrowa, hutnictwo, przetwarzanie i odzysk metali i metali nieżelaznych.
|
|
Matryca analizy
|
Fe, Al, Cu, Zn, Ni, Mg, Pb itp.
|
|
Układ optyczny
|
Próżniowy system optyczny Para-Runge-Roland Circular Full-Spectral
|
|
Zakres długości fali
|
160 ~ 580 nm
|
|
Kratka ogniskowa
|
401 mm
|
|
Detektor
|
Wysokowydajna matryca CMOS
|
|
Typ źródła światła
|
Cyfrowe źródło światła. Wysokoenergetyczna technologia wstępnego spalania.
|
|
Częstotliwość rozładowania
|
100-1000 Hz
|
|
Prąd rozładowania
|
Maks. 400A
|
|
Moc robocza
|
AC220V 50/60Hz 1200W
|
|
Czas analizy
|
W zależności od rodzaju próbki, zwykle wynosi około 20 s.
|
|
Typ elektrody
|
Elektroda natryskowa wolframowa
|
|
Luka analityczna
|
4mm
|
|
Inne funkcje
|
Temperatura, oprogramowanie do automatycznej kontroli ciśnienia, monitorowanie komunikacji.
|
2)Główne cechy techniczne
|
System optyczny o wysokiej wydajności
|
Płomień łuku generowany przez wzbudzenie układu optycznego jest bezpośrednio wprowadzany do próżniowej komory optycznej przez soczewkę, która realizuje ścieżkę optyczną i skutecznie zmniejsza utratę ścieżki optycznej.
|
|
Wysoce precyzyjny detektor CMOS może dokładnie mierzyć pierwiastki niemetaliczne, takie jak C, P, S, As, B, N i wszelkiego rodzaju elementy metalowe.
|
|
Wyniki testów są dokładne, powtarzalne i stabilne w długim okresie.
|
|
Automatyczna kalibracja ścieżki optycznej
|
Automatyczna kalibracja ścieżki optycznej. Układ optyczny automatycznego skanowania linii widmowych w celu zapewnienia poprawności odbioru i wyeliminowania żmudnej pracy skanowania szczytowego.
|
|
Przyrząd automatycznie identyfikuje konkretną linię widmową i porównuje ją z oryginalną linią przechowywania, określa pozycję dryftu i dowiaduje się o aktualnej pozycji piksela linii analitycznej do pomiaru.
|
|
Projekt zatkanego obiektywu
|
Próżniowy układ optyczny wykorzystuje unikalne okno padające i izolację próżniową, które mogą działać w stanie roboczym układu próżniowego. Soczewka optyczna ma zatkaną strukturę soczewki, która jest wygodna w codziennym czyszczeniu i konserwacji.
|
|
Otwórz tabelę Spark
|
Elastyczna konstrukcja zacisku próbki otwartego stołu iskrowego została zaprojektowana tak, aby spełniać wymagania analizy próbek dla różnych kształtów i rozmiarów w siedzibie klienta.
|
|
Minimalna analiza drutu może osiągnąć 3 mm przy użyciu małego zacisku do pobierania próbek.
|
|
Technologia elektrod strumieniowych
|
Zastosowanie najbardziej zaawansowanej na świecie technologii elektrod natryskowych i elektrody wolframowej. W stanie wzbudzonym wokół elektrody powstanie strumień argonu. Zatem punkt wzbudzenia nie będzie miał kontaktu z powietrzem zewnętrznym podczas procesu wzbudzania, co poprawi dokładność wzbudzenia.
|
|
Dzięki unikalnej konstrukcji gazu argonowego znacznie zmniejsza się zużycie argonu i oszczędza koszty klienta.
|
|
Zintegrowany moduł ścieżki gazu
|
W systemie ścieżki powietrza zastosowano konstrukcję bezpłatnej konserwacji modułu ścieżki gazu zamiast zaworu elektromagnetycznego i przepływomierza. Funkcja samorozdmuchu elektrody stwarza dobre środowisko dla wzbudzenia.
|
|
Cyfrowe źródło światła wzbudzenia
|
Cyfrowe źródło światła wzbudzenia wykorzystuje najbardziej zaawansowane źródło światła wzbudzenia plazmowego na świecie. Super stabilna energia jest uwalniana w środowisku argonu w celu stymulacji próbki.
|
|
W pełni cyfrowy impuls wzbudzenia jest stosowany w celu zapewnienia ultrawysokiej rozdzielczości i wysokiej stabilności wyjściowej próbki plazmy.
|
|
Parametry źródła światła można dowolnie regulować, aby spełnić wymagania wzbudzenia różnych materiałów.
|
|
Szybkie pozyskiwanie danych
|
Przyrząd wykorzystuje wysokowydajny detektor CMOS, a każdy CMOS ma funkcję gromadzenia i analizowania danych. Może automatycznie monitorować i kontrolować stan pracy modułów, taki jak temperatura, próżnia, ciśnienie argonu, źródło światła, komora wzbudzenia itp.
|
|
Transmisja danych w sieci Ethernet
|
Pomiędzy komputerem a spektrometrem używana jest karta Ethernet i protokół TCP/IP, aby uniknąć negatywnych skutków zakłóceń elektromagnetycznych i starzenia się światłowodu. Jednocześnie komputer i drukarka są całkowicie zewnętrzne, co ułatwia aktualizację i wymianę.
|
|
Zdalnie monitoruj stan przyrządu, wielokanałowy system sterowania i monitoruj wszystkie parametry przyrządu.
|
|
Prefabrykowana krzywa robocza
|
Przy różnych materiałach i gatunkach biblioteki standardowej, fabrycznie prefabrykowana krzywa pracy przed dostawą jest wygodna w montażu i uruchomieniu w celu terminowej produkcji.
|
|
Program analizy będzie się różnić w zależności od metali i pierwiastków. Parametry wzbudzenia i testu instrumentu zostały dostosowane na długo przed dostawą. Zgodnie z programem analitycznym optymalne warunki testowe mogą zostać wybrane automatycznie.
|
|
Zakres analiz dołączony jest do specyfikacji i może być dowolnie rysowany lub rozszerzany w oparciu o dostarczony przez użytkownika wzór standardowy.
|
|
Duża szybkość analizy
|
Szybkość analizy jest bardzo duża. Na jeden test potrzeba tylko 20 sekund.
|
|
Według różnych materiałów analitycznych, ustawiając czas wstępnego spalania i czas pomiaru, przyrząd może osiągnąć najlepszy efekt analizy w najkrótszym czasie.
|
|
Analiza wielomacierzowa
|
Projekt ścieżki optycznej przyjmuje strukturę kompasu. Detektory są rozmieszczone naprzemiennie w górę i w dół, tak aby odbierane były wszystkie linie widmowe. Nawet jeśli nie dodano możliwości sprzętowych, można przeprowadzić analizę wielomacierzową.
|
|
Łatwo jest dodawać matryce, rodzaje materiałów i elementy analityczne bez kosztów sprzętu, zgodnie z wymaganiami produkcyjnymi.
|
|
System oprogramowania w języku chińsko-angielskim
|
Oprogramowanie do obsługi przyrządu jest w pełni kompatybilne z systemem Windows 7/8/10.
|
|
Oprogramowanie jest łatwe w obsłudze nawet bez znajomości spektrometrów i doświadczenia operacyjnego. Dopiero po prostej wiedzy szkoleniowej można zastosować.
|
2.Konfiguracja techniczna
1)Dane techniczne i parametry techniczne
|
Przedmiot
|
Indeks
|
|
Matryca analizy
|
Fe, Al, Cu, Zn, Ni, Pb, Mg itp.
|
|
Czas analizy
|
W zależności od rodzaju próbki, zwykle wynosi 20 s.
|
|
Układ optyczny
|
Para-Runge
|
|
Zakres długości fali
|
160～580nm
|
|
Moc robocza
|
(220±20)VAC,(50±1)Hz,Zasilanie jednofazowe z uziemieniem ochronnym.
|
|
Temperatura pracy
|
(10～30)℃
|
|
Temperatura przechowywania
|
(0～45)℃
|
|
Wilgotność robocza
|
20％～80％
|
|
Wymagania dotyczące czystości gazu argonowego
|
99,999%
|
|
Ciśnienie wlotowe gazu argonowego
|
0,5 MPa
|
|
Przepływomierz argonu
|
Przepływ wzbudzenia 3,5 l/min,Utrzymuj natężenie przepływu 0,4 l/min,Przepływ w trybie gotowości 0,1 l/min.
|
|
Maksymalna moc wzbudzenia
|
400VA
|
|
Średni pobór mocy w trybie gotowości
|
100VA
|
|
Typ źródła światła
|
Synteza impulsów, wszystkie cyfrowe źródła światła (programowalne impulsowe, wszystkie cyfrowe źródła światła)
|
|
Częstotliwość rozładowania
|
Maks. 1000 Hz
|
|
Prąd rozładowania
|
Maks. 400A
|
|
Impuls zapłonowy
|
1～14kV
|
|
Impuls wzbudzenia iskry
|
20～230 V
|
|
Impuls wzbudzenia łuku
|
20～60 V
|
|
Średnica otworu stołu iskrowego
|
13mm
|
2)Układ optyczny
l Układ optyczny o pełnym spektrum ze strukturą lpa-Runge
l Zakres długości fali: 160～580nm
l Wiele wysokowydajnych detektorów CMOS
l Odporność na zmianę temperatury otoczenia
l Zintegrowana konstrukcja komory optycznej, detektor CMOS zapewnia fale krótkie w celu osiągnięcia najlepszej wydajności.
l Stała kontrola temperatury pomieszczenia optycznego. Temperatura wynosi 36℃.
3)Przykładowa tabela Spark
l Specjalna konstrukcja komory wzbudzenia sprawia, że czyszczenie komory wzbudzenia próbki jest wygodniejsze.
l Zoptymalizowana ścieżka gazu argonowego została zaprojektowana tak, aby zapewnić efektywne chłodzenie stanowiska napalania i efektywne przedostawanie się pyłu metalicznego do filtra podczas procesu wzbudzania, co sprawia, że wzbudzenie próbki jest bardziej stabilne i znacznie zmniejsza wchłanianie pyłu metalicznego przez organizm ludzki. Ma to na celu ochronę zdrowia i bezpieczeństwa operatorów.
l Mniejsza przestrzeń wzbudzenia, co powoduje mniejsze zużycie argonu.
l Przykładowe urządzenie, które jest łatwe w użyciu.
l Elektroda posiada funkcję samoprzedmuchu, co znacznie wydłuża żywotność elektrody i znacznie ułatwia jej czyszczenie.
l Rozmiar porów wzbudzonych o średnicy 13 mm jest bardziej korzystny dla analizy próbek.
l Generator próbek otwartych można wykorzystać do analizy próbek o różnych rozmiarach i kształtach.
l Konstrukcja soczewki sprawia, że demontaż i wycieranie soczewki jest wygodniejsze, a mycie argonem może wydłużyć cykl czyszczenia soczewki.
4)Cyfrowe źródło światła
l Synteza impulsowa, w pełni cyfrowe źródło światła (programowalne impulsowe, w pełni cyfrowe źródło światła). Najwyższa częstotliwość do 1000 Hz.
l Wysokoenergetyczna technologia wstępnego spalania
l Optymalna konstrukcja obwodu sterującego i mocy oraz doskonała funkcja zabezpieczenia wzbudzenia.
l Zapewnij optymalny przebieg iskry, łuku lub kombinacji wzbudzenia dla różnych próbek do analizy.
l Częstotliwość:(100～1000)Hz
l Prąd rozładowania:maks. 400 A
5)System gromadzenia danych
l Wysokowydajny procesor DSP z ultraszybką akwizycją danych i funkcją sterowania.
l Akwizycja pojedynczej iskry i akwizycja opóźnienia widmowego w celu uzyskania bardziej zoptymalizowanego pomiaru zawartości pierwiastków.
l Komputer zewnętrzny (opcjonalnie dla użytkownika)
l Szybka transmisja danych w sieci Ethernet
6)Oprogramowanie analityczne
l Oprogramowanie do analizy graficznej oparte na systemie operacyjnym Windows, wygodne i praktyczne.
l Pełna funkcja automatycznej diagnostyki systemu.
l Doskonała funkcja zarządzania bazą danych, łatwe wyszukiwanie i podsumowywanie danych.
l Inteligentny algorytm korekcji zapewniający stabilność i niezawodność instrumentu.
l Pełne informacje o liniach widmowych i algorytm usuwania zakłóceń, aby zapewnić dokładniejszą analizę.
l Dostosowanie do najnowszego systemu operacyjnego Windows.
7)Lista głównych komponentów podstawowych i pochodzenie
|
NIE.
|
Nazwa
|
Marka
|
Pochodzenie
|
|
1
|
Macierz CMOS
|
HAMAMATSU
|
Japonia
|
|
2
|
Krata
|
Zeissa
|
Niemcy
|
|
3
|
Okulary optyczne
|
Zeissa
|
Niemcy
|
|
4
|
Światłowód
|
Zwinny
|
Chiny
|
|
5
|
Szczelina
|
lenoxlaser
|
Chiny
|
|
6
|
Filtr
|
TDK
|
Japonia
|
|
7
|
Czujnik ciśnienia
|
SSI
|
Chiny
|
|
8
|
Blok zaworowy
|
Airtac
|
Tajwan
|
|
9
|
Cyfrowe źródło światła modułowe
|
nuojin
|
nuojin
|
|
10
|
Kontrola główna i gromadzenie danych
|
nuojin
|
nuojin
|
|
11
|
Próżniowy układ optyczny
|
nuojin
|
nuojin
|
|
12
|
Moduł stacji strzeleckiej
|
nuojin
|
nuojin
|
|
13
|
Oprogramowanie systemowe
|
nuojin
|
nuojin
|
|
14
|
Komputer
|
Len ovo
|
Chiny
|
|
15
|
Drukarka
|
HP
|
Chiny
|
|
16
|
Próbki standardowe
|
Norma krajowa
|
Marka chińska lub zagraniczna
|
3.Elementy analizy i zakres
|
Program
|
Stop Fe-niski
|
Stal Fe-Cr-Ni
|
Stal Fe-Cr
|
|
Elementy
|
Min
|
Maks
|
Min
|
Maks
|
Min
|
Maks
|
|
C
|
0,0006
|
1.3
|
0,008
|
2.5
|
0,04
|
2.2
|
|
Si
|
0,01
|
3.9
|
0,09
|
4
|
0,1
|
1.4
|
|
Mn
|
0,03
|
2.1
|
0,12
|
16
|
0,1
|
1,5
|
|
P
|
0,002
|
0,12
|
0,003
|
0,3
|
0,006
|
0,05
|
|
S
|
0,002
|
0,16
|
0,001
|
0,4
|
0,001
|
0,3
|
|
Kr
|
0,01
|
4,5
|
7.4
|
32
|
7.8
|
24
|
|
Ni
|
0,004
|
4.4
|
0,8
|
48
|
0,09
|
4.2
|
|
Pon
|
0,0004
|
1.3
|
0,08
|
4.2
|
0,02
|
1
|
|
Glin
|
0,003
|
1,5
|
0,005
|
1.7
|
0,1
|
1.7
|
|
Cu
|
0,0002
|
0,5
|
0,05
|
4,5
|
0,02
|
0,5
|
|
Współ
|
0,001
|
0,5
|
0,008
|
17
|
0,01
|
0,5
|
|
Ti
|
0,002
|
1.2
|
0,005
|
1.1
|
0,006
|
0,4
|
|
Uwaga
|
0,002
|
0,3
|
0,02
|
2
|
|
|
|
V
|
0,0003
|
0,9
|
0,02
|
9,5
|
0,03
|
1.1
|
|
W
|
0,03
|
2.1
|
0,002
|
4.1
|
0,05
|
0,7
|
|
Pb
|
0,0003
|
0,03
|
0,0001
|
0,02
|
|
|
|
B
|
0,0006
|
0,02
|
0,0007
|
0,02
|
|
|
|
sen
|
0,001
|
0,09
|
0,0003
|
0,05
|
|
|
|
Zn
|
0,002
|
0,04
|
0,006
|
0,008
|
|
|
|
Jak
|
0,0007
|
0,1
|
0,0004
|
0,04
|
|
|
|
Bi
|
0,0001
|
0,01
|
0,00004
|
0,003
|
|
|
|
Zr
|
0,004
|
0,35
|
|
|
|
|
|
Ok
|
0,0004
|
0,002
|
0,0003
|
0,001
|
|
|
|
Sb
|
0,0002
|
0,02
|
0,0005
|
0,022
|
|
|
|
N
|
0,002
|
0,09
|
0,004
|
0,9
|
|
|
|
Fe
|
Matryca
|
Matryca
|
Matryca
|
|
Program
|
Fe-Żeliwo
|
Odlew Fe-Cr-twardy
|
Stal Fe-Mn
|
Stal narzędziowa Fe
|
|
Elementy
|
Min
|
Maks
|
Min
|
Maks
|
Min
|
Maks
|
Min
|
Maks
|
|
C
|
1.8
|
4,5
|
0,9
|
3.4
|
0,5
|
2.4
|
0,08
|
2.2
|
|
Si
|
0,2
|
4.7
|
0,2
|
2.5
|
0,3
|
1.7
|
0,04
|
1,5
|
|
Mn
|
0,06
|
4.7
|
0,1
|
2.4
|
5.3
|
23
|
0,04
|
1.7
|
|
P
|
0,02
|
0,8
|
0,01
|
0,3
|
0,01
|
0,2
|
0,004
|
0,07
|
|
S
|
0,003
|
0,2
|
0,01
|
0,15
|
0,006
|
0,11
|
0,001
|
0,06
|
|
Kr
|
0,03
|
10,5
|
0,4
|
34
|
0,08
|
3.8
|
1.8
|
14
|
|
Ni
|
0,05
|
6.8
|
0,05
|
32
|
0,04
|
3.5
|
0,07
|
0,55
|
|
Pon
|
0,01
|
2.1
|
0,1
|
4
|
0,1
|
2
|
0,02
|
9.4
|
|
Glin
|
0,002
|
0,12
|
|
|
0,008
|
0,12
|
0,005
|
1.6
|
|
Cu
|
0,06
|
2.2
|
0,06
|
1,5
|
0,02
|
0,6
|
0,04
|
0,5
|
|
Współ
|
0,008
|
0,03
|
|
|
0,007
|
0,1
|
0,008
|
8
|
|
Ti
|
0,007
|
1
|
0,01
|
0,14
|
0,004
|
0,4
|
|
|
|
Uwaga
|
0,002
|
0,7
|
0,1
|
0,7
|
0,08
|
0,42
|
|
|
|
V
|
0,01
|
0,7
|
0,02
|
1.2
|
0,01
|
0,84
|
0,03
|
2.5
|
|
W
|
0,007
|
1
|
|
|
|
|
0,06
|
19
|
|
Pb
|
0,0002
|
0,04
|
|
|
|
|
0,0001
|
0,07
|
|
Mg
|
0,001
|
0,14
|
|
|
|
|
|
|
|
B
|
0,002
|
0,5
|
|
|
0,0009
|
0,02
|
|
|
|
sen
|
0,003
|
0,3
|
|
|
0,008
|
0,07
|
0,007
|
0,05
|
|
La
|
0,002
|
0,12
|
|
|
|
|
|
|
|
Ce
|
0,004
|
0,09
|
|
|
|
|
|
|
|
N
|
|
|
|
|
0,01
|
0,09
|
0,008
|
0,05
|
|
Te
|
0,014
|
0,016
|
|
|
|
|
|
|
|
Fe
|
Matryca
|
Matryca
|
Matryca
|
Matryca
|
|
Program
|
Stop Al-Si
|
Stop Al-Zn
|
Stop Al-Cu
|
Stop Al-Mg
|
Stop czystego aluminium
|
|
Elementy
|
Min
|
Maks
|
Min
|
Maks
|
Min
|
Maks
|
Min
|
Maks
|
Min
|
Maks
|
|
Si
|
0,02
|
24
|
0,02
|
9.4
|
0,02
|
7
|
0,02
|
2.3
|
0,01
|
1.2
|
|
Fe
|
0,02
|
4
|
0,03
|
1
|
0,05
|
1.9
|
0,07
|
0,8
|
0,01
|
4
|
|
Cu
|
0,005
|
6
|
0,01
|
4.3
|
0,01
|
13
|
0,007
|
1
|
0,002
|
1
|
|
Mn
|
0,005
|
1
|
0,02
|
1
|
0,05
|
1
|
0,03
|
2.4
|
0,001
|
1
|
|
Mg
|
0,01
|
1,5
|
0,01
|
4
|
0,01
|
2.7
|
0,006
|
10.2
|
0,002
|
1
|
|
Kr
|
0,005
|
0,5
|
0,01
|
0,4
|
0,01
|
0,14
|
0,01
|
0,4
|
0,001
|
0,15
|
|
Ni
|
0,02
|
2.5
|
0,01
|
0,2
|
0,01
|
2.3
|
0,005
|
0,25
|
0,001
|
0,16
|
|
Zn
|
0,005
|
3.5
|
0,01
|
12
|
0,05
|
3.5
|
0,01
|
1
|
0,002
|
0,5
|
|
Ti
|
0,005
|
0,4
|
0,005
|
0,3
|
0,001
|
0,2
|
0,007
|
0,3
|
0,001
|
0,15
|
|
Być
|
0,001
|
0,2
|
|
|
|
|
0,001
|
0,009
|
|
|
|
Bi
|
0,02
|
0,6
|
0,002
|
0,6
|
0,02
|
0,6
|
0,02
|
0,6
|
0,02
|
0,6
|
|
Ok
|
0,002
|
0,03
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Płyta CD
|
0,001
|
0,3
|
0,002
|
0,3
|
0,01
|
0,3
|
0,01
|
0,3
|
0,001
|
0,3
|
|
Ce
|
|
|
|
|
|
|
0,05
|
0,3
|
0,05
|
0,3
|
|
Współ
|
0,003
|
0,4
|
0,01
|
0,05
|
0,03
|
0,4
|
0,03
|
0,4
|
0,009
|
0,4
|
|
Ga
|
0,005
|
0,2
|
|
|
|
|
0,009
|
0,02
|
0,002
|
0,06
|
|
La
|
|
|
|
|
|
|
0,02
|
0,12
|
0,02
|
0,12
|
|
Pb
|
0,005
|
0,5
|
0,005
|
0,5
|
0,01
|
0,5
|
0,001
|
0,5
|
0,002
|
0,5
|
|
Sb
|
0,005
|
0,4
|
|
|
0,1
|
0,4
|
|
|
|
|
|
sen
|
0,003
|
0,5
|
0,005
|
0,2
|
0,02
|
0,3
|
0,0007
|
0,2
|
0,01
|
0,2
|
|
senior
|
0,005
|
0,1
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
V
|
0,005
|
0,2
|
0,005
|
0,03
|
0,01
|
0,03
|
0,002
|
0,03
|
0,004
|
0,05
|
|
Zr
|
0,005
|
0,2
|
0,01
|
0,3
|
0,001
|
0,2
|
0,003
|
0,12
|
0,001
|
0,12
|
|
Pr
|
|
|
|
|
|
|
0,005
|
0,03
|
0,005
|
0,03
|
|
Nd
|
|
|
|
|
|
|
0,02
|
0,12
|
0,02
|
0,12
|
|
sm
|
|
|
|
|
|
|
0,001
|
0,006
|
0,001
|
0,006
|
|
P
|
0,002
|
0,005
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Glin
|
Matryca
|
Matryca
|
Matryca
|
Matryca
|
Matryca
|
|
Program
|
Mosiądz
|
Miedź-nikiel-Zn
|
Brąz aluminiowy
|
Brąz cynowo-ołowiowy
|
|
Elementy
|
Min
|
Maks
|
Min
|
Maks
|
Min
|
Maks
|
Min
|
Maks
|
|
Zn
|
0,5
|
45
|
0,01
|
0,8
|
0,04
|
7
|
0,003
|
11.3
|
|
Zn
|
|
|
18
|
33,5
|
|
|
|
|
|
Pb
|
0,01
|
6
|
0,002
|
1.3
|
0,002
|
0,12
|
0,001
|
21
|
|
sen
|
0,009
|
9,5
|
0,009
|
5.8
|
0,003
|
2.5
|
0,005
|
19
|
|
P
|
0,002
|
0,2
|
0,003
|
0,07
|
0,002
|
0,2
|
0,001
|
1
|
|
Mn
|
0,001
|
5.3
|
0,0009
|
1.8
|
0,001
|
2.4
|
0,001
|
0,4
|
|
Fe
|
0,02
|
3
|
0,03
|
2.7
|
0,005
|
6
|
0,003
|
1
|
|
Ni
|
0,009
|
1.8
|
5.5
|
34
|
0,002
|
6
|
0,001
|
5
|
|
Si
|
0,001
|
4.6
|
0,0009
|
0,8
|
0,004
|
0,3
|
0,002
|
1.4
|
|
Mg
|
0,001
|
0,01
|
0,003
|
0,7
|
|
|
|
|
|
Kr
|
0,001
|
0,2
|
0,0003
|
1.8
|
|
|
|
|
|
Te
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Jak
|
0,001
|
0,2
|
0,003
|
0,05
|
0,001
|
0,03
|
0,004
|
0,2
|
|
Sb
|
0,001
|
0,4
|
|
|
0,001
|
0,1
|
0,001
|
0,6
|
|
Płyta CD
|
0,001
|
0,02
|
|
|
0,001
|
0,01
|
|
|
|
Bi
|
0,002
|
5.5
|
0,001
|
0,1
|
0,002
|
0,12
|
0,006
|
1
|
|
Ag
|
0,007
|
0,1
|
0,002
|
0,1
|
|
|
0,001
|
0,06
|
|
Być
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Współ
|
0,004
|
0,5
|
0,007
|
0,3
|
|
|
0,001
|
0,2
|
|
Glin
|
0,001
|
6.7
|
0,0009
|
2
|
3.0
|
12
|
0,01
|
0,6
|
|
S
|
0,001
|
0,15
|
0,0004
|
0,08
|
|
|
0,001
|
0,5
|
|
B
|
0,002
|
0,005
|
0,003
|
0,009
|
|
|
|
|
|
Ti
|
|
|
0,003
|
0,15
|
|
|
|
|
|
Se
|
0,003
|
1.4
|
|
|
|
|
0,005
|
0,5
|
|
Cu
|
Matryca
|
Matryca
|
Matryca
|
Matryca
|
|
Program
|
Czerwona miedź
|
Bądź brązowy
|
Si-Brąz
|
|
Elementy
|
Min
|
Maks
|
Min
|
Maks
|
Min
|
Maks
|
|
Zn
|
0,001
|
0,3
|
0,005
|
0,23
|
0,2
|
6
|
|
Zn
|
|
|
|
|
|
|
|
Pb
|
0,001
|
1,5
|
0,005
|
0,3
|
0,01
|
0,8
|
|
sen
|
0,001
|
0,3
|
0,005
|
0,18
|
0,05
|
0,7
|
|
P
|
0,001
|
0,02
|
|
|
0,005
|
0,08
|
|
Mn
|
0,0001
|
0,1
|
0,005
|
0,08
|
0,2
|
1.8
|
|
Fe
|
0,001
|
0,2
|
0,02
|
0,28
|
0,1
|
1.7
|
|
Ni
|
0,001
|
0,5
|
0,005
|
0,35
|
0,05
|
1
|
|
Si
|
|
|
0,02
|
0,3
|
1,5
|
5
|
|
Mg
|
0,001
|
0,01
|
|
|
0,002
|
0,01
|
|
Kr
|
0,001
|
0,03
|
0,002
|
0,006
|
|
|
|
Te
|
0,005
|
0,05
|
|
|
|
|
|
Jak
|
0,005
|
0,3
|
|
|
0,005
|
0,08
|
|
Sb
|
0,005
|
0,35
|
|
|
0,005
|
0,07
|
|
Płyta CD
|
0,001
|
0,03
|
|
|
|
|
|
Bi
|
0,001
|
0,07
|
|
|
0,002
|
0,02
|
|
Ag
|
0,006
|
0,05
|
|
|
|
|
|
Być
|
|
|
0,32
|
3.2
|
|
|
|
Współ
|
0,001
|
0,05
|
0,15
|
2
|
|
|
|
Glin
|
0,002
|
0,02
|
0,02
|
0,2
|
0,02
|
0,35
|
|
S
|
0,001
|
0,05
|
|
|
0,005
|
0,02
|
|
B
|
0,001
|
0,03
|
|
|
|
|
|
Se
|
0,001
|
0,06
|
|
|
|
|
|
Cu
|
Matryca
|
Matryca
|
Matryca
|
Notatka:
l Ten arkusz programu jest wypełniany zgodnie z rzeczywistymi wymaganiami umownymi klienta.
l Jeśli klienci mają standardowe wymagania dotyczące próbek, podaj numery próbek i dokonaj zakupu samodzielnie. Jeśli kupią je pracownicy sprzedaży, standardowe próbki zostaną wysłane oddzielnie od firmy Wuxi.
l Jeśli klient korzysta ze specjalnej aplikacji i chce dostarczyć próbkę do opracowania krzywej, klient musi podać dokładną zawartość elementów próbki i zapewnić jednorodność próbki, ale ta krzywa nie możedziałać jako wskaźnik akceptacji instrumentu.
4.Środowisko laboratoryjne
1)Wymóg środowiska
Urządzenie należy umieścić w specjalnym laboratorium o powierzchni większej niż 10 metrów kwadratowych i upewnić się, że w pobliżu laboratorium nie ma szkodliwych, łatwopalnych i żrących gazów.
Uwaga: zabrania się umieszczania tego urządzenia w laboratorium analizy chemicznej.
Temperatura pracy: 10 ℃～30℃, a wahania temperatury w pomieszczeniu w ciągu 3 godzin są mniejsze niż 2 stopnie. laboratorium ma obowiązek zamontować klimatyzację.
Temperatura przechowywania: 0 ℃～45 ℃
Wilgotność względna otoczenia: 20% ~ 80%. W przypadku obszarów wilgotnych wymagany jest osuszacz.
Niespełnienie powyższych wymagań może mieć wpływ na żywotność i dokładność pomiaru przyrządu.
2)Zapotrzebowanie na moc
Zasilanie: jednofazowe 220 + 20V, 1KVA.
Aby zapewnić normalne użytkowanie spektrometru Innovate NJ-QP880, należy zainstalować regulator napięcia o mocy od 1 kVA do 3 kVA, jednofazowy, 220 V AC.
Zapewnij niezawodne użytkowanie instrumentu, przygotuj pojedynczy przewód uziemiający dla instrumentu, a rezystancja uziemienia jest mniejsza niż 4 omy.
3)Zapotrzebowanie na argon
Czystość ≥99,999%, zawartość tlenu ≤2 ppm, zawartość H2O ≤5 ppm (butli z argonem nie można przechowywać na świeżym powietrzu, a deszcz jest surowo zabroniony.)
Jeśli nie ma argonu o wysokiej czystości, zaleca się użycie oczyszczacza argonowego.
Przepływ gazu argonowego: przepływ w trybie gotowości około 0,1 l/min, przepływ utrzymuj ok(0,4-0,5)L/min, przepływ wzbudzenia około 3,5 l/min.
Ciśnienie kontrolowane gazem argonowym: 0,5Mpa.
4)Rura łącząca argon
Należy zastosować specjalną rurkę przyłączeniową argonową ze stali nierdzewnej.
5) Butelka wydechowa
Gazy spalinowe z instrumentu są odprowadzane przez rurkę wzmacniającą z PVC (średnica wewnętrzna 14 mm) do butelki z filtrem. Trzeba wyczyścić i wymienić na czas.
6)Przygotowanie próbki
W przypadku próbek na bazie żelaza próbki należy przygotować za pomocą specjalnego mechanizmu mielącego, wymaganej szlifierki dwutarczowej i szlifierki szlifierskiej, która służy do szlifowania powierzchni próbek żelaza i stali. Próbka żeliwa białego musi być jednorodna.
Użytkownik musi przygotować maszynę do cięcia do obróbki próbek, które nie nadają się do analizy spektroskopowej.
Próbki muszą być jednolite, bez porów i wad odlewniczych, powierzchnia musi być gładka, bez tlenków, plam olejowych i zadziorów.
7)Standardowe wymagania dotyczące próbki
Losowo pobierana jest jedna próbka standardowa w celu skorygowania ogólnej krzywej widmowej przyrządu. Ponadto użytkownicy muszą przygotować dodatkowe odpowiednie próbki standardowe dla swoich własnych typów produktów w celu kalibracji krzywych analizy instrumentalnej.
8)Wymagania dotyczące komputera i drukarki
Przygotuj komputer o konwencjonalnej konfiguracji, z pamięcią 1 GB lub więcej, dwurdzeniowym procesorem 1,8 GHz lub więcej, aby zainstalować oprogramowanie do analizy spektrometru Innovate T5.
Przygotuj drukarkę do drukowania raportów z analiz.
Twoja wiadomość musi mieć od 20 do 3000 znaków!
Polish
