|
Szczegóły Produktu:
|
| Skala: | Standardowa 0 ~ 1250μm | Rozstrzygnięcie: | 0,1 μm/1 μm |
|---|---|---|---|
| Zasada działania: | Magnetyczne i wirowe | podłoże: | Baza FE/NFe, zależy od sond |
| Dokładność: | ±2%H+1μm Uwaga: H to odczyt grubości | Wyświetlacz: | LCD 128x64 z podświetleniem |
| Pamięć: | 5 plików x 99 wartości | Przełącznik jednostek: | Metryczne (μm) Imperialne (mil) |
| Władza: | Bateria AA 2 szt. (Transport pozalotniczy) |
Wskaźnik grubości powłoki metalowej TG-6019
DANIA TEKNICZNE
| Zakres pomiarowy | Standardowe 0~1250μm (sonda F10 Max 10000μm, N3 0~3000μm, F3 0~3000μm) |
| Rozstrzygnięcie | 00,01 μm/1 μm |
| Zasada działania | Magnetic & Eddy |
| Substrat | Baza FE / NFe, zależy od sond |
| Dokładność | ±2%H+1μm Uwaga: H oznacza odczyt grubości |
| Wyświetlacz | 128x64 LCD z podświetleniem |
| Pamięć | 5 plików x 99 wartości |
| Przełącznik jednostki | Metryczne (μm) Imperialne (mil) |
| Temperatura pracy | Operacja Temp. :-10°C~50°C Temperatura przechowywania. :-30°C-70°C |
| Władza | Akumulatory AA 2 sztuk (transport nie lotniczy) |
| Wielkość | 125x67x31 mm |
| Waga | 340 g |
Główna cecha
* ten model jest w stanie zmierzyć grubość warstw powłok niemanetycznych pokrytych podłożem magnetycznym, takich jak: niemanetyczne (aluminium, chrom, miedź, emalia,Farba) pokryta podłożem magnetycznym (celsy), stopu i magnetycznej stali nierdzewnej), może również mierzyć grubość warstw powłok nieprzewodzących pokrytych przewodzącym podłożem.z tworzyw sztucznych) pokrytych przewodzącym podłożem (aluminium), mosiądzu, cynku i niemagnetycznej stali nierdzewnej);
*Różne sondy opcjonalne, automatyczne dopasowanie sondy;
*Trwała sonda rubinowa, bardziej zużywalna i precyzyjna;
* Całkowicie metalowa konstrukcja powłoki, solidna, przenośna, wysoka niezawodność;
*funkcja alarmowa w przypadku przekroczenia ustawionego zakresu ograniczającego;
* pięć wartości statystycznych [MEAN, MAX, MIN, NO., S.DEV] z większą dokładnością pomiaru;
* Duże miejsce do przechowywania danych, łatwe do usunięcia pojedynczych lub wielokrotnych zapisanych wartości;
*Optywne oprogramowanie PC, wygodne w transmisji danych, analizie, druku itp.
STANDARDOWA DOSTARKA
| Pozycja | KTY |
| Jednostka główna | 1 sztuk |
| F1 lub N1 Sonda opcjonalna | 1 sztuk |
| Standardowy urządzenie kalibracyjne | 1 SET |
| Substrat Fe lub NFe | 1 sztuk |
| Podręcznik | 1 sztuk |
| Obudowa przyrządu | 1 sztuk |
| Gwarancja | 2 lata |
Osoba kontaktowa: Ms. Shifen Yuan
Tel: 8610 82921131,8613910983110
Faks: 86-10-82916893
